发明专利
时间:2024-09-10

引线框架表面缺陷检测方法及系统
本发明提供一种引线框架表面缺陷检测方法及系统,涉及检测技术领域,包括收集引线框架图像,将经过预处理的引线框架图像输入缺陷提取网络,使用特征分层网络对引线框架图像进行下采样,获得浅层特征图集和深层特征图集,浅层特征图集通过并行卷积模块,获得缺陷细节增强图集,深层特征图集通过串行卷积模块,获得缺陷语义增强图集;将缺陷细节增强图集和缺陷语义增强图集输入特征融合模块,沿通道维度进行叠加,再按照膨胀率进行空洞卷积操作,经过对应位置像素叠加和点卷积融合,得到综合缺陷特征图;将综合缺陷特征图输入缺陷感知模型,重构综合缺陷特征图,得到重构图像,通过缺陷感知模型和重构图像的差异度比较,确定引线框架表面缺陷。